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Diplom- und Master-Arbeiten (eigene und betreute):

W. Hetaba:
"Fine structure and site specific energy loss spectra of NiO";
Betreuer/in(nen): P. Schattschneider; Institut für Festkörperphysik, 2011.



Kurzfassung deutsch:
Kurzfassung deutsch
Mittels des Simulationsprogramms WIEN2k wurden Berechnungen der elektronischen Struktur von NiO durchgeführt. Die mit verschiedenen Austausch-Korrelationsfunktionalen erhaltenen Ergebnisse wurden mit experimentellen Daten verglichen. Man sieht, dass das modifizierte Becke-Johnson Austauschpotential die beste Wahl für das Übergangsmetalloxid NiO ist.
Weiters wurde die Wechselwirkung zwischen dem Elektronenstrahl und der Probe mittels Energieverlust von kanalisierten Elektronen untersucht.
Die Berechnungen, durchgeführt mit einem Simulationsprogramm basierend auf dem Blochwellenformalismus und dem gemischten dynamischen Formfaktor, wurden mit Experimenten verglichen und zeigen sehr gute Übereinstimmung.
Zusammenfassend kann gesagt werden, dass es die jüngsten Fortschritte bei Simulationsprogrammen erlauben, die mit komplizierten Methoden in einer neuen Generation von korrigierten Elektronenmikroskopen erhaltenen experimentellen Daten besser zu erklären.

Kurzfassung englisch:
Kurzfassung englisch
Electronic structure calculations for NiO were performed using the ab-initio simulation package WIEN2k. The results obtained using different exchange-correlation functionals were compared to experimental data. It is shown that the modified Becke-Johnson exchange potential is the best choice for the transition-metal oxide NiO.
Furthermore, the probe-target interaction was investigated by means of energy loss by channelled electrons. The calculations conducted using a simulation software based on the Bloch-wave formalism and the mixed dynamic form factor were compared to experiments. It is shown that the measurements are in very good agreement with the simulations.
Thus, it is shown that recent advances in simulation software allow for explaining high precision experimental data obtained by sophisticated techniques in a new generation of corrected electron microscopes.

Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universitšt Wien.